歡迎光臨深圳九州工業(yè)品有限公司！
咨詢電話
15766191432
15766191432
products
產(chǎn)品分類
更新時間：2024-07-26 
瀏覽次數(shù)：146多分析物納米顆粒尺寸測量系統(tǒng) nanoSAQLA
nanoSAQLA是采用動態(tài)光散射法（DLS法）的粒徑測量裝置（粒徑0.6nm至10μm）。
配備進一步追求質(zhì)量控制需求的各種功能。
一種新的光學系統(tǒng)，支持從稀釋系統(tǒng)到濃縮系統(tǒng)的寬濃度范圍內(nèi)的多分析物測量，實驗室的輕量化和緊湊設(shè)計，以及標準的 1 分鐘高速測量。
此外，這款新產(chǎn)品是非浸入式的，不受污染影響，標配“5個樣品連續(xù)測量"，無需自動進樣器。
特征：
用一臺
設(shè)備輕松連續(xù)測量 5 個樣品 實現(xiàn)了多個樣品的連續(xù)測量，這在沒有自動進樣器的情況下是困難的
也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。
與稀釋到濃縮系統(tǒng)兼容
標準測量時間：1分鐘高速測量
針對濃樣品和稀樣品自動調(diào)整最佳測量位置，實現(xiàn)約1分鐘高速測量
配備簡易測量功能（一鍵開始測量）
軟件簡單易懂，無需復雜操作
內(nèi)置非浸入式池塊，消除污染，無需分液。每個
池都是獨立的，無需擔心污染。
配備溫度梯度功能
，方便溫度設(shè)定
測量范圍（理論值）：
粒徑0.6nm～10μm
濃度范圍0.00001~40%
溫度范圍0~90℃*
您的位置：
在線咨詢
返回頂部