美國filmetrics 薄膜測量儀

產(chǎn)品型號：F10-AR-UV
更新時間：2024-11-21

簡要描述：美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV
輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的先進(jìn)技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。

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產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,能源,電子,綜合

美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量

輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層

F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的先進(jìn)技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長范圍內(nèi)進(jìn)行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。

無需背面準(zhǔn)備

我們獨的特的探頭設(shè)計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。

美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量

輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層

無需背面準(zhǔn)備